聚創(chuàng) EDXRF技術(shù)金屬元素X熒光分析儀JC-350X

一、產(chǎn)品介紹 

   能量色散X熒光分析儀利用EDXRF技術(shù)，采用X光管產(chǎn)生X射線激發(fā)樣品，先進(jìn)的SDD探測器探測元素特征X射線，2048道數(shù)字化全譜分析，可以分析包括輕元素在內(nèi)幾十種元素，具有分析速度快、分析精度高、分析范圍廣、穩(wěn)定性好、操作簡單等特點(diǎn)。

   在銅合金等金屬制造行業(yè)中，材料、半成品、成品的質(zhì)量保證與質(zhì)量控制(QA/QC，該儀器是質(zhì)量體系中材料確認(rèn)、半成品檢驗(yàn)、成品復(fù)檢的常備儀器。生產(chǎn)者可以控制合金中的元素各成分含量，提高產(chǎn)品性能、減少次品和廢品，提高經(jīng)濟(jì)效益。

二、主要用途

主要用于銅合金、鋁合金、鋅合金、鑄鐵等原材料檢驗(yàn)，冶煉生產(chǎn)過程成分控制，成品元素成分定值，爐前合金的快速分析和成品分析。

三、性能特點(diǎn)

☆.采用了美國新型的電致冷硅漂移SDD半導(dǎo)體探測器，具有高分辨率（125eV）和高探測效率;

☆.采用高真空度測樣裝置，消除了空氣對低能X射線的阻擋，滿足RoHS或合金檢測時對輕元素的準(zhǔn)確分析；

☆.采用大功率的正高壓X光管和高壓發(fā)生器，提高了對輕重元素的檢測下限，實(shí)現(xiàn)了對多種元素的同時快速檢測分析；

☆.自動開蓋，無限平臺的設(shè)計適應(yīng)多種不同大小規(guī)格樣品的檢測，可以測量固體、 液體、粉末樣品；

☆.內(nèi)置彩色CCD攝像頭，使用戶可以精確定位檢測區(qū)域及時記錄所測樣品圖像信息；

☆.一體化的設(shè)計，使得儀器的性能穩(wěn)定可靠、故障率低；

☆.采用USB-CAN適配器與計算機(jī)進(jìn)行通信，使用方便；

☆.自動切換的濾片裝置有效的降低了光管的散射本底，提高了儀器測量的峰谷比和分辨率，使得重元素和微量元素的測量更準(zhǔn)確；

☆.先進(jìn)的全數(shù)字化多道譜儀讓儀器測量時的數(shù)據(jù)采集和處理更加快速準(zhǔn)確，極大的提高了儀器的穩(wěn)定性和抗干擾的能力；

☆.自帶數(shù)據(jù)庫管理系統(tǒng)的全中文測量軟件讓儀器的測量更加方便，操作更加簡單；

☆.多重安全的防護(hù)設(shè)計，使儀器的整機(jī)輻射符合國家輻射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)，讓用戶用的放心。

四、技術(shù)指標(biāo)

1.分析元素范圍：Na-U

銅合金：Cu、Ag、Sn、Ni、Fe、Si、Zn、S、Cd、Pb、Cr、Zr、Mg、Co、Mn、Sb、Al、As 、P、Se、Te等；

鑄鐵：Ti、As、Si、P、Al、Cu、Sb、Nb、Ni、Mo、Mn、Cr、V、Mg等；

不銹鋼：Mn、Mo、Ni、Cu、Cr、P、S、Si、V、W、Ti、Pb、Alt、Co、Nb、Sn、As、Sb、Bi、Zn等；

2.元素含量分析范圍：0.07ppm～99.9%；

3.探測器：電致冷硅漂移SDD半導(dǎo)體探測器（分辨率優(yōu)于139eV）;

4.測量范圍：1～45KeV；

6.高壓：5kV～50kV；

7.管流：5μA～1000μA；

8.整機(jī)額定功率：50W；

9.CDD攝像頭分辨率：500萬像素；

10.真空泵額定功率：550W；

11.10秒鐘真空度可達(dá)10-2Pa （高真空區(qū)域10-1～10-5Pa）;

12.檢測時間：120s～300s（時間隨樣品不同可調(diào)整）;

13.儀器重量：65Kg；

14.儀器尺寸：720（W）X440（D）X435（H）mm

 聚創(chuàng) EDXRF技術(shù)金屬元素X熒光分析儀JC-350X